Fluoreszenzspektrometer SPECTRO MIDEX MID04

für die Raumfahrtindustrieenergiedispersiver RöntgenfluoreszenzXRF

Schnelles und zerstörungsfreies Compliance Screening mittels RFA/XRF mit flexibler Messpunktgröße von 0,1 bis 4 mm Elementlinien-Scans und Mapping: Erhalten Sie eine qualitative Elementzusammensetzung innerhalb von Minuten, wo andere Mikro-RFA/XRF-Geräte Stunden benötigen Komplettes Applikationspaket: mit vorbereiteten Kalibrierungen für das Screening von Kunststoffen und Verbundwerkstoffen sowie für die Metallanalyse Das SPECTRO MIDEX ein Allroundtalent für die schnelle und zerstörungsfreie Analyse kleiner Messpunkte und das schnelle Mapping großer Oberflächen (bis zu 233x160 mm) in Forschung und Entwicklung sowie im Rahmen von Compliance-Screening Anwendungen. Denn viele analytische Aufgaben in Industrie, Forschung und Wissenschaft erfordern ein zerstörungsfreies Analysesystem, das extrem messempfindlich ist und die Analyse eines kleinen Messpunktes ermöglicht. Die Genauigkeit der Elementanalyse ist für viele Anwendungen von großer Bedeutung. Bei anderen Anwendungen ist dagegen die Geschwindigkeit von größter Bedeutung. Zudem bevorzugen Anwender ein Analysegerät, das leicht zu bedienen ist, über eine durchdachte Software verfügt und eine problemlose Übertragung der Daten in ein Labornetzwerk ermöglicht. In vielen Fällen ist auch eine zerstörungsfreie Analyse unabdingbar. Seit Jahren stellt das SPECTRO MIDEX seine Leistungsfähigkeit unter Beweis. Das SPECTRO MIDEX beinhaltet die neuesten Entwicklungen im Bereich der ED-RFA/XRF-Detektortechnologie sowie eine deutlich verbesserte Empfindlichkeit.