Optisches Spektrometer SPECTROLAB S

für die RaumfahrtindustriehochauflösendFunkenemission

Hochpräzise Messergebnisse in weniger als 20 Sekunden (Beispiel: niedriglegierter Stahl) Der regelmäßige Wartungsaufwand (Funkenstandreinigung) wurde um den Faktor 8 reduziert Durchschnittlich zweifache Verbesserung der Nachweisgrenzen für niedriglegierten Stahl; fünffache Verbesserung für reine Aluminiummetalle im Vergleich zu vorherigen Modellen Geräteabmessungen wurden um 27% reduziert iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems, spart 30 Minuten pro Tag SPECTRO entwickelt als Innovationsführer seit mehr als 40 Jahren weltweit führende OES-Geräte. Jetzt hat SPECTRO den Einsatz von Halbleiterdetektoren dank der proprietären CMOS+Technologie perfektioniert, um die High-End-Funken-OES-Analyse zu revolutionieren. Das SPECTROLAB S ist eine Klasse für sich. Es wurde entwickelt, um schnellstmögliche Messungen, niedrigste Nachweisgrenzen, höchstmögliche Verfügbarkeit und größtmögliche Zukunftssicherheit zu gewährleisten. Das SPECTROLAB S Funkenspektrometer verfügt über das weltweit erste CMOS-basierte Detektorsystem, das für die High-End-Metallanalyse perfektioniert wurde – dank SPECTROs proprietärer CMOS+T Technologie. Von Spurenelementen bis hin zu Multi-Matrix-Anwendungen bietet es eine extrem schnelle, hochpräzise und äußerst flexible Analyse. Wenn es um den Probendurchsatz geht, trifft das SPECTROLAB S in Bezug auf die Geschwindigkeit genau die Anforderungen des Metallmarktes. Beispiel: Bei der Analyse von niedriglegiertem Stahl kann es hochgenaue Messungen in weniger als 20 Sekunden liefern! Für jede Art von Analyse ist es das leistungsstärkste Funkenspektrometer, das heute für Primärmetallerzeuger erhältlich ist.