Das TopMap Metro.Lab von Polytec ist ein hochpräzises Weißlicht-Interferometer (Coherence Scanning Interferometer) mit einem großen vertikalen Verfahrweg und einer Auflösung im Nanometerbereich. Berührungsfreie Messungen von Ebenheit, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher und filigraner Materialien sind ideale Anwendungen für das Metro.Lab Topographie-Messsystem.
Als komplette Messstation ist das TopMap Metro.Lab bestens geeignet, wenn Sie großflächige Topographien nahezu aller Oberflächen vornehmen wollen. Der große vertikale Messbereich von 70 mm erlaubt Ihnen Messungen auch unter schwierigen Bedingungen bei Auflösungen im sub-Nanometer-Bereich.
Berührungslos durch optisches, interferometrisches Messprinzip
Messung auch an steilen Stufen möglich (z.B. Bohrlöchern) durch telezentrische Optik
Flexibel durch 70 mm Verfahrweg
Schnelle flächenhaften Inspektionen mit großem Bildfeld
Großes Messfeld bis ca. 80 x 80 mm mit erweiterter Version
Leicht bedienbare und automatisierbare Software, erzeugt Parameter gemäß DIN/ISO-Normen
Geeignet für nahezu alle Oberflächen, ebenso mit stark unterschiedlichen Reflektivitäten durch Smart Surface Scanning
Integrierbar in eine staubgeschützte und vibrationsgedämpfte Workstation für den Einsatz in Maschinenhallen
Mit einem hochattraktiven Preis-/ Leistungsverhältnis ist das TopMap Metro.Lab die bedienerfreundliche und erschwingliche Lösung zur Qualitätskontrolle im Messlabor sowie im produktionsnahen Einsatz. Dabei überprüft es Werkstücke flächenhaft, wofür taktile Systeme viel mehr Zeit benötigen.