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XRF-Analysator X-Supreme8000
MaterialBenchtopfür die Luftfahrt

XRF-Analysator - X-Supreme8000 - Hitachi High-Tech Analytical Science - Material / Benchtop / für die Luftfahrt
XRF-Analysator - X-Supreme8000 - Hitachi High-Tech Analytical Science - Material / Benchtop / für die Luftfahrt
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Eigenschaften

Weitere Eigenschaften
Material
Konfigurierung
Benchtop
Weitere Eigenschaften
für die Luftfahrt, XRF, Röntgenfluoreszenz

Beschreibung

EDRFA mit dem leistungsstarken Tischspektrometer X-Supreme8000 für Qualitätssicherung und Prozesskontrolle. Das X-Supreme8000 ermöglicht die Analyse einer Vielzahl von Proben, z.B. Feststoffe, Flüssigkeiten, Pulver, Pasten, Folien, etc. im Elementbereich zwischen 11Na und 92U und im Konzentrationsbereich zwischen wenigen ppm bis zu 100 %. Minimale oder keine Probenvorbereitung Unbeaufsichtigten Betrieb, Bedienung ohne hochqualifiziertes Laborpersonal FocusSD Technologie sichert Schnelligkeit, Genauigkeit und langfristige Zuverlässigkeit Flexible Messung durch qualitative, halb-qualitative und vollständig quantitative Analyse Das X-Supreme8000 erfüllt die Normen ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 und ISO13032.

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Kataloge

FT110A
FT110A
6 Seiten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.