XRF-Analysator FT16 series

MaterialBenchtopfür die Luftfahrt

Mikrofokus RFA Geräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests. Schichtdickenmessung und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden. Hochauflösender SDD Elementbereich: Al - U Geschlossene Messkammer XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer Drei Kammerkonfigurationen: FT160 – Standardkonfiguration mit Flexibilität zum Messen von Komponenten und Platinen FT160S - Kleinerer Probentisch für Komponenten von bis zu 300 x 245 mm FT160L – Größerer Probentisch für Leiterplatten von bis zu 600 x 600 mm Wahlweise Wolfram- oder Molybdän-Röntgenröhrenanode Filter: 5 Polykapillare Spotgröße < 30 µm RFA Controller Software