Prüfmaschine für Laserdioden

LeistungLuftfahrt

Lebensdauertest- und Qualifizierungstestsystem für die Zuverlässigkeitsbewertung von Laserdioden im CW- oder gepulsten Regime bis zu 1 Nanosekunde. Bis zu 112 völlig unabhängige Glasfasergeräte werden gemäß mehreren benutzerprogrammierten Testszenarien elektrisch, thermisch und optisch getestet. Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem wurde speziell für die Qualifizierung und den Test von fasergekoppelten Geräten mit maximaler interner und externer Messflexibilität entwickelt. Die optische Leistung der Laserdiode wird unabhängig von den BFMs oder einigen externen Fotodioden mit variabler Verstärkung für eine bessere Genauigkeit gemessen. Es ermöglicht die unabhängige und präzise Einstellung der Temperatur jedes Laserdiodengehäuses und jedes Laserdiodenchips. Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem ist ein kurzpulskompatibles Zuverlässigkeitsbewertungssystem, das sich ideal für Lebensdauertests und Qualifikationstests eignet. Hauptmerkmale: Von CW (Continuous Wave) bis hinunter zu einer Impulsbreite von weniger als 1 ns CW-LIV- und Gepulste-LIV-Tests zur Vermeidung thermischer Effekte 100 % unabhängiges Verhalten jeder Laserdiode Ideal für Butterfly oder andere fasergekoppelte Gehäuse (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can usw.) Eingebetteter Flash-Speicher in jedem Fach mit 8 Laserdioden Programmierende Überwachungs-GUI mit benutzerfreundlicher grafischer Oberfläche Voller Laserschutz mit speziellem Schutzfenster Zu den Anwendungen dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystems gehören alle Qualifikationen, Lebensdauertests oder Einbrenntests: