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Überwachungs-Spektrometer
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Wellenlänge: 185 nm - 672 nm
Wenn Sie Stähle und andere Legierungselemente wie Aluminium, Nickel und Kupfer in einer sicherheitskritischen Umgebung zuverlässig analysieren müssen, benötigen Sie ein Gerät, das schnell die analytische Leistung liefert, der Sie direkt ...
Wellenlänge: 130 nm - 770 nm
... Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale ...
SPECTRO
Wellenlänge: 165 nm - 770 nm
Das energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (RFA/XRF) SPECTRO XEPOS definiert die ED-RFA- bzw. ED-XRF-Analyse durch seine außergewöhnliche Leistungsstärke völlig neu Die außergewöhnliche Messempfindlichkeit ...
SPECTRO
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