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Wellenlänge: 185 nm - 672 nm
Wenn Sie Stähle und andere Legierungselemente wie Aluminium, Nickel und Kupfer in einer sicherheitskritischen Umgebung zuverlässig analysieren müssen, benötigen Sie ein Gerät, das schnell die analytische Leistung liefert, der Sie direkt ...
... Ein integriertes Gerät, das sichtbares Licht, Infrarotbildgebung und Strahlungsbildgebung kombiniert. Es kann gleichzeitig nach Personen mit hohen Temperatur- und Strahlungsrisikofaktoren suchen und zielt auf den Bereich der Inspektion ...
... Das Produkt basiert auf der Panorama-Gamma-Bildgebungstechnologie, die eine 4π-Rundum-Bildgebung von radioaktivem Material ermöglicht. Das Gerät verfügt über hohe Empfindlichkeitspunkte und einen großen Energiedetektionsbereich, wodurch ...
... Auf der Grundlage der kodierten Strahlungsbildgebungstechnologie kann es radioaktives Material genau abbilden. Es eignet sich für den Einsatz an Zollhäfen, Flughäfen und anderen Ein- und Ausreisestellen zur visuellen Überwachung, um zu ...
Wellenlänge: 130 nm - 770 nm
... Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale ...
SPECTRO
Wellenlänge: 165 nm - 770 nm
Das energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (RFA/XRF) SPECTRO XEPOS definiert die ED-RFA- bzw. ED-XRF-Analyse durch seine außergewöhnliche Leistungsstärke völlig neu Die außergewöhnliche Messempfindlichkeit ...
SPECTRO
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