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Optische Emissions Spektrometer
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Wellenlänge: 185 nm - 672 nm
Wenn Sie Stähle und andere Legierungselemente wie Aluminium, Nickel und Kupfer in einer sicherheitskritischen Umgebung zuverlässig analysieren müssen, benötigen Sie ein Gerät, das schnell die analytische Leistung liefert, der Sie direkt ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Wellenlänge: 165 nm - 420 nm
Ob Verwechslungsprüfung bei ein- und ausgehenden Materialien, Materialverifizierung, Qualitätskontrolle oder Schrottsortierung - mit dem mobilen Funkenspektrometer PMI-MASTER Pro2 haben Sie die notwendige die analytische Leistung, um ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Wellenlänge: 175 nm - 420 nm
... kosteneffizienten und verlässlichen Analyse die ideale Lösung für die Metallproduktion und die metallverarbeitende Industrie. Das optische Emissionsspektrometer der neuen Generation bietet höchste analytische Leistung ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Der FM EXPERT ist ein optisches Emissionsspektrometer der nächsten Generation, das überlegene analytische Leistung mit einer kompakten Größe verbindet. Sein großer Wellenlängenbereich ist ideal für die Analyse aller relevanten ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Wellenlänge: 117 nm - 670 nm
... sollten die Geräte der OE Serie in keinem Betrieb fehlen. Sie sind genauso leistungsfähig wie größere und deutlich teurere Spektrometer. *Je nach Anwendung. Für nähere Informationen fordern Sie bitte unsere Applikationsberichte ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Wellenlänge: 130 nm - 770 nm
... Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale ...
SPECTRO
Wellenlänge: 175 nm - 770 nm
Mächtige Alternative zur sequenziellen ICP und FAA: Simultane Erfassung des Spektrums in einem Wellenlängenbereich von 175 bis 770 nm - bis zu 700 Proben können pro Tag analysiert werden Niedrige Betriebskosten: Geringer Bedarf (0,5 ...
SPECTRO
Wellenlänge: 165 nm - 770 nm
Schnellstes RFA/XRF-Spektrometer seiner Klasse: Doppelt so schnell wie vergleichbare Geräte, hochpräzise Analysen Herausragend in puncto Leistungsumfang und Genauigkeit: Optimierte Anwendungspakete Unvergleichlicher ...
SPECTRO
Der anerkannte "Goldstandard" für die Elementanalyse von Edelmetallen mittels RFA/XRF Die große Bandbreite von mehr als 30 Elementen wird durch ein umfassendes Kalibrationspaket unterstützt - für höchste Genauigkeit bei Spurenelementen ...
SPECTRO
Leichtes und portables RFA/XRF-Spektrometer für Edelmetalle; die Messpunktgröße beträgt nur 1 mm Schnell und vor Ort: Elementanalyse von Gestein, Sedimenten und Böden. Der Elementbereich beginnt bei Na; die Nachweisgrenzen ...
SPECTRO
Wellenlänge: 120 nm - 670 nm
Die einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung sorgt für eine gleichbleibende Standardisierung ‒ auch bei den meisten Temperaturschwankungen ‒ und spart im Durchschnitt 30 Minuten täglich Verglichen zu Vorgängermodellen bis zu ...
SPECTRO
Wellenlänge: 120 nm - 670 nm
Ideal für die Metallanalyse und die Qualitätskontrolle von Eisen-, Aluminium- und Kupferbasislegierungen; bietet zudem speziell zugeschnittene Lotbadanalysen Schnelle iCAL Ein-Proben-Standardisierung spart im Durchschnitt 30 Minuten ...
SPECTRO
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